一、眼內異物的診斷
眼內異物的診斷根據有以下幾種：
1。病史：有外傷史，特別是以錘敲擊和爆炸致傷者眼內異物的可能性最大。此外，機床上的飛屑和射擊的各種彈丸也是常見的致傷物。樹枝、竹簽、細木棍或細金屬絲等的刺傷，也可能其尖端折斷而留在眼球球內。
2。眼球穿通傷：異物進入眼球必然先造成眼球穿通作。所致，眼球穿通傷是眼內異物診斷的重要依據和必有的表現。
3。異物或其通道的表現
⑴前房異物：前房異物多位於虹膜的表面或角膜的後層。少數異物位於虹膜的層間，不易發現。
⑵晶體異物：晶體及其囊上的異物易於發現。如晶體已有輕度渾濁或異物為透明的，因而不易判斷時，可用檢眼鏡檢法（徹照法）檢查。由異物的遮光而顯示暗影。當晶體混濁較重時，需用特殊診斷方法包括X線、超聲、CT或磁共振等加以診斷。
⑶睫狀體異物：除了拉於睫狀體平坦部的後部異物可用間接檢眼鏡加鞏膜壓迫法可能看出者外，其余則需用特殊診斷方法進行診斷。
⑷前部玻璃體的異物：用良好的焦點照明或裂隙燈顯微鏡觀察易於發現。接近眼球壁者須用間接檢眼鏡或三面鏡檢查。但如有玻璃體出血、混濁或外傷性白內障、角膜混濁、虹膜粘連、瞳孔不能散大等而異物不能直接看到時，則需用上述的特殊檢查方法進行診斷。
⑸眼球後部的異物：如屈光介質尚透明，往往可在後部玻璃體、視網膜或視乳頭上發現異物或包括異物的機化團。約僅20%～25%的眼球後段異物可用上述方法直接看到，其余大部分則需依靠各種特殊診斷方法可確定診斷。即或是已經直接看到異物（或包括異物機化團），也往往需要以X線、超聲、電磁定位器或磁性試驗等進一步加以證實。
⑹異物通道的發現：如不能直接看到異物，則可試行尋找異物進入眼球內的通道，再結合病史加以判斷。例如：
①角膜上有新鮮的傷口或已愈合的穿通性傷口（全層瘢痕），而虹膜、晶體均無外傷表現，病史上系碎屑致傷，則異物可能位於前房或前房角。
②角膜有上述的傷口或已愈合的傷口，相應的虹膜上又有一穿孔，但晶體並無損傷，則異的可能位於後房。
③角膜有損傷，且晶體相應部位有局限性或大范圍的混濁，則異物很可能在晶體內或穿過晶體而達到以後的部位。瞳孔區的異物傷，可不經虹膜而僅經角膜和晶體。
④玻璃體通道：角膜、虹膜、晶體有上述相應部位的損傷，而晶體大部分尚透明者，或眼球壁之入口在鞏膜者，可仔細尋找玻璃體通道，後者為一斜行條索，帶有散在的色素。
⑺視網膜損傷的發現：如發現有典型的視網膜損傷，則高度懷疑異物的存在。
發現異物通道或視網膜損傷後，還要結合外傷史加以判斷。如系碎屑致傷，則異物存留的可能性較大，但仍需借助上述的特殊檢查方法加以證實。
二、眼內異物的特殊診斷方法：
眼內異物的特殊診斷方法有以下7種：
1。磁性試驗法：以電磁鐵在眼球前方及其周圍進行試吸。根據患眼有無疼痛感覺及眼球的被試吸部位有無跳動而判斷眼球內有無磁性異物。
2。電感應試驗法：又稱電磁定位法，所用儀器與掃雷器的原理相同，是一種微型的金屬探測器。在其探頭前端所形成的磁場中如有金屬物體即發生感應。經過放大而以指針擺動和音響表示之。此法呈適用於金屬異物，特別是磁性異物。
3。X線檢查法；通常系用x線攝片法之診斷眼內異物。一般攝頭顱和眼球的側位片及後前位片。從平片上可以確定有無異物及其大小、形狀和大致的位置。如進行定位攝片，則可判斷異物的准確位置。此法適用於金屬異物、較大的石片和玻璃。
4。電子計算機X線體層攝影法（CT）：可能更清楚地判斷異物及其位置。適用於金屬和大多數非金屬異物。
5。磁共振成像法（MRI）：較CT更清楚，但不適於磁性異物。除非異物很小。
6。超聲探查法：超聲檢查的A型掃描和B型掃描都可以診斷異物。由於使用方便，適應范圍較廣，故其應用已日漸普遍。超聲檢查不僅能顯示各種金屬異物，而且對x線無法顯示的非金屬異物也大多能清楚顯示。
7。化學分析法：利用銅異物使眼組織和房水中銅含量增加的特點來判斷異物的性質。